Описание
Применение лазера специальной конструкции в качестве источника возбуждения спектров позволяет:
- обеспечить анализ токопроводящих и нетокопроводящих материалов;
- значительно ослабить межэлементные влияния, что даёт возможность построить общую калибровочную кривую для большого диапазона концентраций;
- исключить предварительную подготовку поверхности пробы;
- обеспечить возможность выполнения анализа состава и толщины покрытий, послойный анализ, анализ тонких пленок, анализ состава включений, структурных составляющих.
Использование в Лазерном анализаторе элементного состава LEA-S500 спектрографа с высокой разрешающей способностью обеспечивает получение высококачественного плоского оптического поля, свободного от аберраций.
Применение многоэлементной системы регистрации спектра (ПЗС-камера с 2048 светочувствительными элементами) обеспечивает высокую скорость получения информации.
Тройная (механическая, электронная и программная) защита от воздействия лазерного излучения обеспечивает полную безопасность при эксплуатации анализатора LEA-S500.
ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА
Фокусное расстояние, мм:
* Дифракционная решетка, штрихов/мм:
* Диапазон длин волн, нм:
* Дисперсия, нм/мм:
* Спектральное разрешение, нм:
500
1800
190-800
1.0
0.028
500
2400
190-600
0.7
0.020
500
3600
190-400
0.5
0.014
* Примечание: В приборе устанавливается любая из дифракционных решёток в зависимости от типа материалов, в анализе которых заинтересован заказчик.
Камера образцов
Размеры проб (без адаптеров): 12x12x2 мм (мин.), 75х75х40 мм (макс.)
Возможность перемещения образца вдоль осей Х-Y: +/-5 мм с шагом 0.001 мм
(для усреднения результатов измерения и микроспектрального анализа)
Размер анализируемой зоны: диа. 0.03 - 1.7 мм
Рабочая среда: воздух
Откачка воздуха: при необходимости
Адаптеры: для проволоки, фольги и образцов малого размера
Источник возбуждения
Специальный Nd:YAG лазер с модуляцией добротности
Производитель Солар ТИИ (Solar TII)