Описание
Данный сканирующий электронный микроскоп SEM 3800B снабжен 3 линзами и может приближать до 250,000 X. сканирующий электронный микроскоп SEM 3800B с естественной средой, ускоряющее напряжение от 200В до 30кВ электронный микроскоп SEM 3800B сканирует исследуемый образец электронным лучом. Измеряет интенсивность квантов, испускаемых образцом.
Техническая информация
Разрешение
4.5 нм (вольфрамовый катод прямого накала)
Увеличение
15 - 250,000 X
Оптическая система электронного микроскопа
Электронная пушка: вольфрамовый эмиттер
ускоряющее напряжение: 0_30 кВ
система из трех электромагнитных линз
Объективы: 3 выбираемые апертуры
Камера для образцов
6 портов для WDS, EDS, BSE детекторов и других дополнительных функций
автоматическая загрузка
предметный столик микроскопа
Стандартное смещение предметного столика по X=50мм,Y=50мм,Z=25мм, T=-5 + 90, R=360
Увеличенное смещение предметного столика X=80мм,Y=50мм,Z=30мм, T=0+90, R=360
Система управления
MicrosoftTM WindowsTM XP операционная система
Дисплей
Цифровое изображение, 1024X768 разрешение
17" LCD монитор
Режимы сканирования
на плоскость, линию, определение пятна. Двойное приближение и разделитель экрана
Методы обработки:
низкочастотный фильтр
автоматическое определение отсутствия астигматизма
вращение изображения
автоматическая настройка яркости и контраста
динамическая фокусировка
Процесс создания изображения и анализ
Трансформация границ
Оптимизация изображения
Морфологическая коррекция
Построение хистограммы уровня серых оттенков
школа серого
Запись изображения
ультра высокого изображения(2500 линий)осциллограф для изображений
Поддержка множества форматов для сохранения документации
Поддержка лазерного принтера
Вакуумная система
Полностью автоматический высоко скоростной диффузионный вакуумный насос (Опционально: турбомолекулярный насос)