Описание
цифровой сканирующий электронный микроскоп EM 3200 со встроенным компьютером и увеличением от 15 до 250000 крат. цифровой сканирующий электронный микроскоп поддерживает различные режимы сканирования, предназначен для наблюдения микрообъектов исследования их топографии (морфологических элементов поверхности), фазовой неоднородности и позиционирования электронного пучка для последующих рентгеновских и катодолюминесцентных измерений