JEM-2100 Plus Просвечивающий электронный микроскоп

Цена: цену уточняйте

Цены в категории: 448 ₽ — 1 453 000 ₽

ООО «СИТЭК»

Москва — На сайте с 13 сен 2019

Телефон: +7 (495) 532-09-99

Адрес компании: 125315, г. Москва, ул. Часовая, д. 28, корп. 4

Пожаловаться

Описание

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 Plus от СИТЭК

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) JEM-2100Plus оснащен высокопроизводительной гибкой электронно-оптической системой, разработанной и модернизируемой компанией JEOL на протяжении многих лет, и самой современной системой управления. Этот многоцелевой электронный микроскоп (ПЭМ) обеспечивает решение научно-исследовательских задач в широком спектре областей: от материаловедения до медицинских и биологических наук.

Более компактный эргономичный JEM-2100Plus занимает существенно меньше места: ширина прибора 2036мм вместо 2250мм, ассиметричный стол оператора стал гораздо удобнее. Панели управления с металлическими кнопками и ручками снабжены LED подсветкой.

Широкий выбор полюсных наконечников и различных приставок позволяет сконфигурировать JEM-2100Plus для решения самых разнообразных задач в сфере материаловедения, микро- и наноэлектроники, биологии и медицины.

Новая система управления «TEM Center», которая уже опробована на других моделях ПЭМ (JEM-1400Plus, JEM-ARM200F и др.) и доказала удобство и эффективность, работает под 64-битной версией Microsoft Windows и позволяет легко переключаться между различными режимами работы. На экран компьютера выведено управление всеми основными параметрами прибора.

Высокоточный, стабильный гониометрический столик образцов JEM-2100Plus, оснащенный пьезомеханической системой подвижки и компенсации дрейфа, позволяет получать четкие микрофотографии высокого разрешения, осуществлять элементное картирование образцов с высокой локальностью, а также проводить их 3D-томографию.

В конструкцию электронно-оптической колонны JEM-2100Plus заложены три независимые конденсорные линзы, которые обеспечивают высокий ток для любого диаметра пучка, обеспечивая тем самым широкие возможности для проведения элементного анализа и микродифракции. Разработанный специалистами компании JEOL Alpha Selector™ позволяет пользователю легко выбирать любой режим освещения образца: от полностью сходящегося пучка до полностью параллельного. Наблюдение магнитных доменов (микроскопия Лоренца) доступно даже в базовой комплектации прибора. Диафрагма высокого контраста, совместимая с любым полюсным наконечником, позволяет одновременно получать высококонтрастные изображения и проводить элементный анализ.

Возможность выбора цифровых камер от третьих производителей или собственная разработка JEOL – полностью интегрированная 8Мп камера нижнего крепления, с четко работающим набором автофункций (экспозиция, автофокус, запись и монтаж изображений, компенсация дрейфа) и управлением через общий TEM Center. В комбинации с ПРЭМ-режимом также есть возможность использования функций автофокусировки, автоконтраста/автояркости и системы навигации, позволяющей автоматически перемещать столик образцов в любую ранее записанную точку.

В зависимости от условий эксплуатации и аналитических задач заказчика, вакуумная система JEM-2100Plus может быть укомплектована полностью безмасляными турбомолекулярными и форвакуумными насосами. Такое решение позволяет использовать микроскоп в «чистых» помещениях.

Ключевые преимущества

Основные преимущества JEM-2100Plus:
• Классическая, высокостабильная, надежная электронно-оптическая колонна, доведенная до совершенства.
• Эргономичная, интуитивно понятная, система управления TEM Center, совместимая с 64-битной Windows.
• Большой выбор полюсных наконечников объективной линзы для любого класса задач: высокого и сверхвысокого разрешения для изучения наносистем; большого наклона для томографии и 3D-реконструкции объектов исследований; криогенный для работы с биологическими и чувствительными к электронному пучку образцами; высокого контраста для анализа образцов, состоящих из легких элементов.
• Возможность наклона образца на угол до 80º делает возможным проведение двухосевой томографии.
• Полная автоматизация процесса томографии и 3D-реконструкции образца.
• Возможность работы в ПРЭМ-режиме.
• Возможность работы с любыми детекторами – BF/DF, HAADF, SE/BSE и пр.
• Возможность проведения элементного анализа при помощи энергодисперсионного спектрометра с безазотным охлаждением.
• Высокостабильный гониометрический столик с пьезомеханической подвижкой и компенсацией дрейфа.
• Возможность оснащения цифровыми камерами нижнего и бокового крепления, в том числе полностью интегрированной 8-мимегапиксельной камерой JEOL.
• Возможность работы в офф-лайн режиме (просмотр, проведение измерений на изображении и т.п.).
• Взаимозаменяемость катодов - возможность выбора оператором катода, в зависимости от решаемых в данный момент задач: вольфрамовый для рутинной работы или LaB6 для тонких исследований.
• Возможность выбора между масляной и безмасляной системами откачки.
• Компактный дизайн, возможность размещения в небольшом помещении.
• Относительно невысокая стоимость владения прибором.

Разработки ООО «СИТЭК»

Оборудование

Комплексная поставка высокотехнологического оборудования и материалов — AFMHD