Описание
Микроскоп JSM-IT300LV от СИТЭК это растровый электронный микроскоп с возможностью работы в низковакуумном режиме. Оснащён удобным и понятным пользовательским интерфейсом. Обладает высокой производительностью за счёт высокоскоростного столика образцов и возможностью управления посредством сенсорного экрана, как дополнением к высококачественной электронной оптике с усовершенствованной системой вакуумной откачки и системой захвата и построения изображения.
На корпусе микроскопа предусмотрено множество портов, это позволяет одновременно устанавливать различные дополнительные системы анализа, такие как: система энергодисперсионного анализа, система волнодисперсионного анализа, система дифракции обратно-рассеяных электронов или несколько детекторов энергодисперсионного анализа, что превращает микроскоп в универсальный аналитический комплекс. Также возможна установка системы катодолюминисценции, рентгеновской томографии, различных систем индентирования и.т.д.
Микроскоп оборудован большой камерой образцов, позволяющей исследовать образцы диаметром до 200 мм и высотой 80 мм. Полностью автоматизированный эвцентрический, асинхронный, пятиосевой моторизованный столик может выдерживать массу образца до 2 килограммов включительно, это позволяет исследовать массивные образцы без их предварительного деления.
Новая рабочая среда микроскопа удобна и интуитивно понятна. Управление микроскопом может осуществляться с сенсорного экрана, что позволяет легко и быстро выполнять нужные действия
В микроскопе JEOL JSM-IT300 реализована функция съемки образцов в режиме низкого вакуума. Давление в камере образцов может варьироваться в пределах от 10 до 650 Па. Это позволяет проводить исследование непроводящих и биологических образцов без предварительной пробоподготовки.
Разработки ООО «СИТЭК»
Оборудование
Комплексная поставка высокотехнологического оборудования и материалов — AFMHD